奧林巴斯olympus 45MG測(cè)厚儀對(duì)內(nèi)部腐蝕的金屬材料進(jìn)行厚度測(cè)量使用雙晶探頭
45MG測(cè)厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用是測(cè)量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中zui常使用的是雙晶探頭。
45MG儀器提供的B掃描功能,可在屏幕上將實(shí)時(shí)厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為橫截面圖像。在觀察材料厚度在一定距離上發(fā)生的變化時(shí),這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。探頭一接觸到材料表面,就會(huì)激活B掃描。凍結(jié)zui小值功能用于顯示掃查區(qū)域的zui小厚度值??蛇x45MG數(shù)據(jù)記錄器zui多可存儲(chǔ)單個(gè)B掃描中的10000個(gè)厚度讀數(shù)。
45MG測(cè)厚儀配上D932系列探頭(D790、D790-SM、D790-RL和D790-SL),是測(cè)量高溫材料(溫度高達(dá)500 ºC)的理想選擇,并可獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)。45MG的零位補(bǔ)償功能,通過補(bǔ)償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化,提高了在高溫表面上進(jìn)行測(cè)量的性。
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